表面粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)
高分辨力型 Z1 軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。 Z1 軸的顯示分辨力為 0.0001µm( 測(cè)量范圍為 8µm 時(shí) ) 。
表面粗糙度測(cè)量功能
? 高分辨力型 Z1 軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。 Z1 軸的顯示分辨力為 0.0001μm( 測(cè)量范圍為 8μm 時(shí) ) 。
? X 軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取 X軸移動(dòng)距離，在高精度準(zhǔn)確定位下，完成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。
? 檢出器測(cè)力有 4mN 和 0.75mN 可選。
輪廓測(cè)量功能
? Z1 軸 ( 檢出器 ) 上配有高精度弧形光柵尺和新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測(cè)針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比，新測(cè)臂使 Z1軸測(cè)量范圍增大了 10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸，提高了易用性。
? 專為 SV-C-4500 系列增加了以下兩大特性作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的專用功能。
( 1 ) 裝配雙錐面測(cè)針，實(shí)現(xiàn)垂直方向 ( 上 / 下) 連續(xù)測(cè)量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單分析以往難以測(cè)量的內(nèi)螺紋有效直徑。
( 2 ) 測(cè)力可在 FORMTRACEPAK 軟件中設(shè)置。無(wú)需調(diào)整配重。
? 的表面粗糙度 / 輪廓 FORMTRACEPAK分析程序，通過(guò)簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行分析并即刻輸出結(jié)果。
? 表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓測(cè)量?jī)x結(jié)合在一起，節(jié)省安裝空間。
